CRAIC 20/30 PV™全光譜顯微分光光度計(jì)

20/30 PV™ UV-Visible-NIR Microspectrophotometer

20/30 PV™可為用戶定制紫外-可見(jiàn)-近紅外分光光譜儀

創(chuàng)新性的20/30 PV™顯微分光光度計(jì)是CRAIC科技公司強(qiáng)大的儀器。它為您的需求打造，該定做儀器結(jié)合了光學(xué)、光譜學(xué)和軟件領(lǐng)域里 的技術(shù)進(jìn)步，能夠?yàn)槟鷰?lái)*的速度和性能體驗(yàn)。CRAIC儀器*是因?yàn)樗暮?jiǎn)單易用，而這種易用性在這里甚至得到了改善，使得該設(shè)備成為*的紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微分光光度計(jì)。

20/30 PV™顯微分光光度計(jì)結(jié)合了 的科技，允許用戶測(cè)量直徑小于1微米樣品區(qū)域的紫外-可見(jiàn)-近紅外光范圍內(nèi)的透射比、吸光度、反射率、釋放強(qiáng)度和熒光光譜，即使是薄膜和色彩空間都能被檢測(cè)到。在獲得microspectra™（顯微光譜）的同時(shí)，可以觀察到樣品深紫色、可見(jiàn)光和近紅外光處高分辨率的數(shù)字圖像。易用的特點(diǎn)也附加到了20/30 PV™強(qiáng)大的系統(tǒng)中，包括了軟件自動(dòng)化儀器人體工程學(xué)的所有進(jìn)步。

20/30 PV™ 顯微分光光度計(jì)簡(jiǎn)單易用，測(cè)量方法為非破壞性并且得到的光譜數(shù)據(jù)顯微分光光度計(jì)，可以無(wú)縫從深紫光到近紅外光區(qū)域獲得顯微樣品的光譜和圖像。它可以在吸光度、反射率和熒光性中獲得 microspectra™（顯微光譜）和圖像。與顯微分光光度計(jì)一起提供的還有用眼觀察樣品的 DirecVu™和高分辨率紫外-可見(jiàn)-近紅外光區(qū)域數(shù)字成像系統(tǒng)。

主要特點(diǎn)

紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微分光光譜儀

來(lái)自 的前沿顯微分光計(jì)

一個(gè)*整合的顯微分光計(jì)裝置，描述從深紫外光到可見(jiàn)光到近紅外光范圍的光譜。同時(shí)直接獲得樣品空隙的圖像，而且樣品的測(cè)量更快、更精確。20/30 PV™ 擁有Lightblades™科技的特點(diǎn)，甚至能夠讓您測(cè)量次微米級(jí)樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜。

CRAIC科技也是NIST可追溯的顯微分光計(jì)標(biāo)準(zhǔn)的來(lái)源。

拉曼顯微分光光譜儀

靈活的拉曼顯微分光光譜儀

當(dāng)20/30 PV™裝上CRAIC阿波羅™拉曼分光儀模塊后，它能像拉曼、共振拉曼以及其他測(cè)量顯微樣品的儀器一樣工作。這些模塊包括激光、拉曼分光計(jì)和界面光學(xué)，能讓您收集到樣品高質(zhì)量的拉曼光譜。

熒光性

高靈敏度發(fā)射顯微分光計(jì)和成像系統(tǒng)

20/30 PV™可以被裝配成測(cè)量顯微樣品熒光和冷光光譜以及圖像的儀器。20/30 PV™擁有Lightblades科技的特點(diǎn)，能夠激發(fā)從深紫外到近紅外的光，能測(cè)出相同范圍的放射，它對(duì)于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等學(xué)科的顯微熒光測(cè)定法來(lái)說(shuō)是一款強(qiáng)大的工具。

偏振

紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微分光計(jì)和成像系統(tǒng)

20/30 PV™甚至可以被裝配成獲得偏振光譜和圖像的儀器。20/30 PV™顯微分光計(jì)擁有偏振Lightblades科技的特點(diǎn)和從紫外光到近紅外光的光譜范圍，它的性能是其他儀器無(wú)法達(dá)到的。用這個(gè)精細(xì)的系統(tǒng)您可以容易且迅速地獲得雙折射和其他有偏振特點(diǎn)的樣品的光譜和圖像。

光譜表面成像

光譜表面成像整合了為自動(dòng)化光譜分析設(shè)計(jì)的軟硬件和帶有顯微空間解析度的樣品3D成像技術(shù)。樣品吸光度、透射比、反射率、熒光性、放射性和拉曼光譜這些數(shù)據(jù)的3D地圖也許能夠生成。

紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微光度計(jì)

從紫外光到近紅外光的出眾圖像質(zhì)量

20/30 PV™ 包含帶有研究級(jí)光學(xué)器件的紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微鏡，非常*。20/30 PV™ 擁有精細(xì)的成像軟件，帶有彩色、紫外線和近紅外光區(qū)域的高分辨數(shù)碼成像特點(diǎn)。這允許您簡(jiǎn)單迅速地通過(guò)透射比、反射率、偏振和熒光顯微鏡來(lái)實(shí)時(shí)獲得樣品的圖像。

應(yīng)用

l 半導(dǎo)體薄膜厚度（測(cè)量）

l  MEMS 設(shè)備

l  表面等離子體共振

l  光激能帶隙水晶

l  雜質(zhì)加工檢測(cè)

l  蛋白質(zhì)晶體

l  法庭科學(xué)

l  藥物化學(xué)

l  可疑文件

l  OLED

l  平板彩色面罩

l  組合化學(xué)