集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能的新型納米檢測(cè)顯微鏡，可以實(shí)現(xiàn)從50倍到100萬(wàn)次的超寬范圍的觀(guān)察和測(cè)量，以及一種新型的在不失去鎖定的情況下實(shí)現(xiàn)納米級(jí)觀(guān)察目的是縮短從放置樣品到獲取圖像的工作時(shí)間。多合一模型，因此無(wú)需重新放置樣品，只要在一個(gè)設(shè)備上打開(kāi)放大和觀(guān)察方法，它就可以靈活地響應(yīng)新樣品。下面幾個(gè)方面來(lái)說(shuō)說(shuō)它的強(qiáng)大功能。
 

　　1、原子分辨率和穩(wěn)定性。

　　2、大的樣品腔設(shè)計(jì)，適應(yīng)性強(qiáng)。

　　3、主控制系統(tǒng)采用德州儀器（TI）32位高性能數(shù)字信號(hào)處理器（DSP）。

　　4、高壓掃描驅(qū)動(dòng)器采用APEX集成高壓運(yùn)算放大器。

　　5、主控制系統(tǒng)具有內(nèi)置的實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)。

　　6、系統(tǒng)使用FastEthernet連接到計(jì)算機(jī)。

　　納米檢測(cè)顯微鏡檢測(cè)過(guò)程可以立即獲得更直觀(guān)的外觀(guān)和豐富的細(xì)節(jié)，同時(shí)進(jìn)行多通道信號(hào)采集和顯示，一次掃描即可同時(shí)獲得各種特性和樣本特征具有導(dǎo)出圖像和曲線(xiàn)數(shù)據(jù)的樂(lè)趣因此，可以獲得所有原始數(shù)據(jù)探針表征和圖像重建功能（針尖形貌估計(jì)/圖像重建/使用已知探針的圖像重建）。

　　1、全自動(dòng)插入針頭，無(wú)需手動(dòng)粗調(diào)。

　　2、只需更換探頭支架，即可在STM和AFM等不同類(lèi)型的儀器之間進(jìn)行切換。

　　3、全數(shù)字控制，智能識(shí)別和控制參數(shù)，例如儀器類(lèi)型和系統(tǒng)狀態(tài)。

　　4、軟件控制的樣品移動(dòng)。

　　5、納米檢測(cè)顯微鏡同時(shí)保存所有當(dāng)前工作環(huán)境參數(shù)和掃描圖像。

　　6、樣品粒徑和粗糙度自動(dòng)分析功能，與國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)的全套參數(shù)可用。